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大小写变形:N type semiconductor
The Seebeck coefficient measurement analysis indicated that Bi 2 - xTe 3 + x film have N - type semiconductor characteristic.
温差电性能测试分析表明,Bi_(2-x)Te_( 3+x )薄膜材料具有半导体特性,塞贝克系数不随温度变化.
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