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Hot - carrier effect is a major reliability failure mechanism of MOS devices and circuits.
热载流子效应是影响MOS器件与电路可靠性的主要因素.
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Carrier effect of slowing the target's movement by 50 % for 20 seconds – also a wound.
保持20秒的降低目标50%的移动速度—同时产生伤害.
载体效应???
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